X-Işını Difraktometresi-XRD

PANalytical EMPYREAN XRD

X ışınının numune ile etkileşim sonucunda elde edilen saçılma desenine göre malzemeninin yapısal analizi için kullanılan bir X-Ray difraktometre cihazıdır. Toz difraksiyonu, polikristalin veya öğütülmüş katı numunelerde kristalografik yapı, kristal boyutu ve kristal oryantasyonunu karakterize etmek için kullanılan bir tekniktir. Toz difraksiyonu, yaygın olarak bilinmeyen maddeleri tanımlamak, difraksiyon verileri karşılaştırmak için kullanılır ve aynı zamanda kristal bileşiklerin nispi değerini belirlemede, katı heterojen karışımları karakterize etmekde kullanılır. Cihazımız faz ve toz örneklerinin yapısal analizi için en iyi çözüm olarak tasarlanmıştır.

Uygulama Alanları:

• Çevre
• Toprak / kayaç
• Kil
• Mineraller
• Seramik
• Çimento
• Cam
• Petrol